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    KosakaET4000探針式輪廓儀

    ET4000具有穩(wěn)定性和重復(fù)性,可測(cè)量FPD、晶片、磁盤,和與納米材料相關(guān)物件的表面特性、臺(tái)階高度和粗糙度等。

    KosakaET4000探針式輪廓儀


    ET4000具有穩(wěn)定性和重復(fù)性,可測(cè)量FPD、晶片、磁盤,和與納米材料相關(guān)物件的表面特性、臺(tái)階高度和粗糙度等。堅(jiān)固的花崗巖材料鑄成的機(jī)身框架以及支撐部件顯著提高了儀器的重復(fù)精度,并降低了地板噪音對(duì)測(cè)量的干擾。ET4000為滿足用戶不同應(yīng)用方向的需要提供了多種可選配置,通過選配三維成像附件套裝還可以極大地?cái)U(kuò)充儀器的功能。


    1.具有很好的臺(tái)階高度重復(fù)性5Å(1σ)和線性度(垂直線性度:200nm以上為±0.25%;200nm以下為0.5nm);
    2.高分辨率,縱軸最大分辨率為0.1nm,橫軸為0.01μm,可精確測(cè)量納米級(jí)至幾百微米級(jí)臺(tái)階高度;
    3.超高直線度:0.005μm/5mm,可測(cè)定微細(xì)表面形狀、段差、平面度、粗度、應(yīng)力分析等;
    4.低測(cè)定力:采用直動(dòng)力LVDT檢出器,觸針力在0.5μN~500μN范圍可以任意調(diào)節(jié),可測(cè)定軟質(zhì)材料;

     

     

     

     


    5.即時(shí)監(jiān)控系統(tǒng):配置標(biāo)準(zhǔn)CCD,可即時(shí)監(jiān)控量測(cè)位置;還可選購(gòu)TopViewCCD,進(jìn)行高精度定位量測(cè);

     

     

     

     

     

     

     

     



    6.可擴(kuò)充成三次元設(shè)備和追加三次元解析軟件,觀察樣品全貌和測(cè)定臺(tái)階移動(dòng)量;
     

     


    7.采用天然金剛石(R2μm)作為探頭,經(jīng)久耐用;


     

     

     

     

    型號(hào) ET4000M ET4000A ET4000L
    最大樣品尺寸 300x300mm 210x210mm 300x400mm
    樣品臺(tái) 尺寸 320x320mm 220x220mm 540x400mm
    X軸傾斜度 ±1mm/150mm(機(jī)動(dòng)傾斜)
    Y軸傾斜度 —— ±1mm/150mm(機(jī)動(dòng)傾斜)
    承重 2Kg
    檢出器 0.5μN-500μN(0.05mgf-50mgf)可調(diào)節(jié)
    范圍 100μm
    驅(qū)動(dòng) LVDT直動(dòng)式(差動(dòng)變壓器)
    觸針 ET-1479(R2μm) ET-1479(R2μm)ET-1480(R0.5μm)
    X軸 最大測(cè)長(zhǎng) 100mm
    直線度 0.005μm/5mm(0.1μm/100mm)
    速度 0.005-2mm/s(定位速度10mm/s)
    重復(fù)性 ±5μm(定位)
    Y軸 最大測(cè)長(zhǎng) —— 150mm 400mm
    直線度 —— 5μm/150mm
    重復(fù)性 —— ±5μm(定位)
    Z軸 最大測(cè)長(zhǎng) 52mm
    放大倍數(shù) 垂直 50-2000000
    水平 1-10000
    3D —— 可選擇
    θ軸 —— 可選擇
    輔助功能 教學(xué)、機(jī)動(dòng)傾斜、傾斜度分析、檢出器自動(dòng)停止功能等
    監(jiān)控系統(tǒng) 攝像裝置 1/2inchCCD(768x494像素)
    監(jiān)視裝置 視頻捕捉板
    應(yīng)用 成像、臺(tái)階、粗糙度、波紋度和傾斜度
    重復(fù)性 1σ0.5nm
    電源 AC100V800VA
    外觀尺寸 W660xD580xH660mm200Kg W930xD930xH790mm380Kg

     

     

     

     

     

     

     

     

     


    全自動(dòng)接觸式輪廓儀ET4000系列可適用于薄膜、FPD、晶片、磁盤和與納米材料相關(guān)物件,測(cè)量微細(xì)表面形狀、段差、平面度、粗度、應(yīng)力分析等,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微量流控、精細(xì)加工和存儲(chǔ)器等行業(yè)。



     

     

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