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    技術(shù)資料

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    等離子刻蝕速率

    時(shí)間:2019-12-25 10:26
    什么是刻蝕
    刻蝕是采用化學(xué)或物理方法有選擇地從芯片表面去除不需要材料的過(guò)程。刻蝕目的:在涂膠的芯片表面上正確的復(fù)制掩膜圖形。
     
    什么是物理干法刻蝕
    目前刻蝕采用的物理方法是使用等離子刻蝕系統(tǒng)把芯片表面暴露于氣態(tài)中產(chǎn)生的等離子體,等離子體通過(guò)光刻膠中開(kāi)出的窗口與芯片發(fā)生物理或化學(xué)反應(yīng)(或兩種反應(yīng)),從而去掉暴露的表面材料。
     
    什么等離子刻蝕速率
    等離子刻蝕速率指等離子刻蝕過(guò)程去除芯片表面不需要材料的速度。等離子刻蝕速率通常用 Å/min
    表示,刻蝕速率=Å/min。刻蝕速率正比于蝕劑濃度,與芯片表面形狀等因素有關(guān)。等離子刻蝕電介質(zhì)及金屬材料的刻蝕速率
    模塊化工藝處理系統(tǒng)即等離子刻蝕系統(tǒng)是為了滿足廣泛的研發(fā)及生產(chǎn)領(lǐng)域的等離子工藝處理要求而研發(fā)的多功能平臺(tái)。
    盡管每個(gè)用戶的刻蝕應(yīng)用可能不一樣,不同等離子工藝應(yīng)用的基本效果如下表所示。我們致力于協(xié)助客戶獲取最佳的等離子工藝性能。

    等離子刻蝕工藝


    電介質(zhì)-含氟化學(xué)
    蝕刻材料 基片 蝕刻速率 (Å/min) 選擇性 均勻性 (±%)
     
    Thermal SiO2
    二氧化硅
     
    Silicon
     
    450
     
    10:1
     
    3%
     
    PECVD SiO2
    PECVD 二氧化硅
     
    Silicon
     
    450
     
    10:1
     
    5%
     
    4%PSG
     
    Silicon
     
    550
     
    12:1
     
    5%
     
    PECVD SiN3
     
    Oxide
     
    450
     
    4:1
     
    5%
     
    LPCVD SiN3
     
    Oxide
     
    300
     
    2:1
     
    5%
     
    Isotropic
     
    Silicon
     
    250
     
    10:1
     
    5%
     
    Single Xtal
    單晶體
     
    n/a
     
    300
     
    (mask) 2:1
     
    5%
     
    TiW
     
    Oxide
     
    250
     
    3:1
     
    5%
     
    Molybdenum
     
    Oxide
     
    1000
     
    15:1
     
    8%
     
    Polyimide
    聚酰亞胺
     
    Aluminum
     
    600
     
    >30:1
     
    5%
     
    Photo-Resist
    光刻膠
     
    Oxide
     
    1000
     
    >20:1
     
    5%


    電介質(zhì)-含氯化學(xué)
    被蝕刻材料 基片 蝕刻速率 (Å/min) 選擇性 均 勻 性 (±%)
     
    Pure Aluminum
    純鋁
     
    Thermal Oxide
     
    800
     
    12:1
     
    4%
     
    Al/1-2%Si
     
    Thermal Oxide
     
    600
     
    8:1
     
    5%
     
    Al/<2%Cu
     
    Thermal Oxide
     
    500
     
    6:1
     
    5%
     
    Polysilicon
     
    Thermal Oxide
     
    400
    15:1  
    5%
     
    Single Xtal
     
    n/a
     
    500
    (mask) 10:1  
    5%
     
    GaAs Via
     
    n/a
     
    1µ/min
     
    >10:1
     
    5%

    注:蝕刻速率及選擇性可以優(yōu)化,提供產(chǎn)出效率。



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